DMM7512 7.5位萬用表將兩個全功能，高精度，高采樣速度的DMMs集成到一個1U高，全機架寬的機箱中。緊湊的機箱可節省高儀器密度測試系統中的機架空間，而不會影響測量性能。每個DMM具有相同的功能，并且它們彼此完全獨立。 

兩個DMM7510s內置在一個緊湊的外殼中

DMM7512由兩個獨立的相同的7 ? 位DMM7510數字萬用表(dmm) 組成，具有較少的測量功能。兩個DMM7512 dmm具有與DMM7510相同的精度，靈敏度和速度，因此DMM7512可以無縫集成到以前使用DMM7510s的測試系統中。

亮點

l 使用1msample/s、18位數字化儀對復雜波形進行采樣; 最多可存儲2750萬個讀數

l 用于具有0.1 μ ? 和1 pa靈敏度的低功耗電路的測試元件

l 最大限度地提高測試質量與高測試不確定度比使用1年精度直流電壓14 ppm

內置測試腳本處理器 (TSP?) 允許在沒有控制器交互的情況下執行測試序列，從而減少測試時間和通信開銷，同時利用控制器執行其他任務

雙測試系統密度

在1U高的機架空間中使用兩個dmm，節省寶貴的機架空間。與兩個2U高的dmm7510相比，您可以在一半的空間內獲得兩倍的測量能力。

亮點

l 將采購和測量與2606B高密度、4通道源測量單元 (SMU) 和DMM7512相結合，可在低至2U的機架空間內實現四個采購通道和兩個測量通道

l DMM7512s或2606Bs之間不需要額外的熱管理間隔

顯著縮短測試時間

每個DMM7512中的兩個dmm都具有內置的智能，可以使用其測試腳本處理器在無需PC交互的情況下執行測試程序 (TSP?) 技術。此外，每個DMM都具有TSP鏈路?硬件接口，以便一臺儀器可以控制主從配置中的其他儀器。

亮點

l 在TSP-Link測試系統中控制多達32臺儀器

l 以低于500 ns的延遲同步測量

l 消除儀器和PC之間耗時的通信

l DMM7512 TSP代碼與DMM7510 TSP代碼兼容